国家及行业检测标准逐条解析，帮助企业理解送检合规要求
GB/T 23413-2009 规定了用 X 射线衍射线宽化法测定纳米材料晶粒尺寸和微观应变的方法。该标准适用于纳米材料（粉末态或块状样品），通过近似函数法分离 Kα 双线、几何宽化与物理宽化、晶粒细化与微观应变宽化效应，得到晶粒尺寸和微观应变。标准由中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会发布，全国微束标准化技术委员会归口，2009-04-01 发布，2009-12-01 实施。本解读由北京清析技术研究院提供。
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 标准性质 | 推荐性国家标准 |
| 发布单位 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 |
| 归口单位 | 全国微束标准化技术委员会 |
| 发布日期 | 2009-04-01 |
| 实施日期 | 2009-12-01 |
| 一句话结论 | 该标准为纳米材料晶粒尺寸和微观应变的测定提供了基于 X 射线衍射线宽化法的统一方法。 |
GB/T 23413-2009 是推荐性国家标准，为纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定提供方法行业一般依据。
该标准适用于纳米材料（粉末态或块状样品），检测对象为纳米材料，测定项目为晶粒尺寸和微观应变。适用产品包括纳米晶功能材料、纳米结构材料、纳米粉末及块状纳米制品。
标准中涉及的核心术语包括：X 射线衍射线宽化法、近似函数法、Kα 双线分离、几何宽化与物理宽化分离、晶粒细化与微观应变宽化效应分离。
X 射线衍射线宽化法通过分析衍射峰的宽化程度来测定晶粒尺寸和微观应变，不能直接测量单个晶粒，而是基于统计平均结果。
方法步骤通常包括：样品制备、衍射图谱采集、Kα 双线分离、几何宽化与物理宽化分离、晶粒细化与微观应变宽化效应分离，最终计算晶粒尺寸和微观应变。具体操作应按照标准原文执行。
关键参数要求如下表所示，数值逐字来自标准原文。
| 参数 | 数值 | 单位 |
|---|---|---|
| 晶粒尺寸测定上限 | 100 | nm |
| 微观应变测定上限 | 0.1 | % |
| 常数K取值 | 1 | |
| 标准样品晶粒尺寸要求 | >1000 | nm |
| X射线衍射仪综合稳定度 | 优于1 | % |
| 测角仪精度 | 优于0.001 | ° |
| 待测样品所选衍射峰总计数 | 不低于1000 |
该标准可应用于纳米材料研发、生产和质量控制中的晶粒尺寸和微观应变测定。
在纳米晶功能材料、纳米结构材料、纳米粉末及块状纳米制品的检验中，可行业一般依据该标准进行测定。
科研机构、企业实验室在纳米材料物相分析中，可采用该标准提供的方法。
GB/T 23413-2009 是推荐性国家标准，规定了用 X 射线衍射线宽化法测定纳米材料晶粒尺寸和微观应变的方法。本解读由北京清析技术研究院提供。
当需要表征纳米材料的晶粒尺寸或微观应变时，可采用该标准方法。例如纳米粉末、纳米晶功能材料的研发与质量控制。
该标准专注于晶粒尺寸和微观应变的测定，而物相定性分析用于确定物相组成，两者目的不同。该标准不适用于物相定性分析。
根据标准原文，晶粒尺寸测定上限为 100 nm。超过该上限时，方法可能不适用。
根据标准原文，微观应变测定上限为 0.1%。
X 射线衍射仪综合稳定度应优于 1%，测角仪精度应优于 0.001°。待测样品所选衍射峰总计数不低于 1000。
标准样品晶粒尺寸要求大于 1000 nm。常数 K 取值为 1。
本页 GB/T 23413-2009 标准解读由北京清析技术研究院提供。
更新时间：2026-10-13
国家及行业检测标准逐条解析，帮助企业理解送检合规要求
GB/T 23413-2009 规定了用 X 射线衍射线宽化法测定纳米材料晶粒尺寸和微观应变的方法。该标准适用于纳米材料（粉末态或块状样品），通过近似函数法分离 Kα 双线、几何宽化与物理宽化、晶粒细化与微观应变宽化效应，得到晶粒尺寸和微观应变。标准由中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会发布，全国微束标准化技术委员会归口，2009-04-01 发布，2009-12-01 实施。本解读由北京清析技术研究院提供。
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 标准性质 | 推荐性国家标准 |
| 发布单位 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 |
| 归口单位 | 全国微束标准化技术委员会 |
| 发布日期 | 2009-04-01 |
| 实施日期 | 2009-12-01 |
| 一句话结论 | 该标准为纳米材料晶粒尺寸和微观应变的测定提供了基于 X 射线衍射线宽化法的统一方法。 |
GB/T 23413-2009 是推荐性国家标准，为纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定提供方法行业一般依据。
该标准适用于纳米材料（粉末态或块状样品），检测对象为纳米材料，测定项目为晶粒尺寸和微观应变。适用产品包括纳米晶功能材料、纳米结构材料、纳米粉末及块状纳米制品。
标准中涉及的核心术语包括：X 射线衍射线宽化法、近似函数法、Kα 双线分离、几何宽化与物理宽化分离、晶粒细化与微观应变宽化效应分离。
X 射线衍射线宽化法通过分析衍射峰的宽化程度来测定晶粒尺寸和微观应变，不能直接测量单个晶粒，而是基于统计平均结果。
方法步骤通常包括：样品制备、衍射图谱采集、Kα 双线分离、几何宽化与物理宽化分离、晶粒细化与微观应变宽化效应分离，最终计算晶粒尺寸和微观应变。具体操作应按照标准原文执行。
关键参数要求如下表所示，数值逐字来自标准原文。
| 参数 | 数值 | 单位 |
|---|---|---|
| 晶粒尺寸测定上限 | 100 | nm |
| 微观应变测定上限 | 0.1 | % |
| 常数K取值 | 1 | |
| 标准样品晶粒尺寸要求 | >1000 | nm |
| X射线衍射仪综合稳定度 | 优于1 | % |
| 测角仪精度 | 优于0.001 | ° |
| 待测样品所选衍射峰总计数 | 不低于1000 |
该标准可应用于纳米材料研发、生产和质量控制中的晶粒尺寸和微观应变测定。
在纳米晶功能材料、纳米结构材料、纳米粉末及块状纳米制品的检验中，可行业一般依据该标准进行测定。
科研机构、企业实验室在纳米材料物相分析中，可采用该标准提供的方法。
GB/T 23413-2009 是推荐性国家标准，规定了用 X 射线衍射线宽化法测定纳米材料晶粒尺寸和微观应变的方法。本解读由北京清析技术研究院提供。
当需要表征纳米材料的晶粒尺寸或微观应变时，可采用该标准方法。例如纳米粉末、纳米晶功能材料的研发与质量控制。
该标准专注于晶粒尺寸和微观应变的测定，而物相定性分析用于确定物相组成，两者目的不同。该标准不适用于物相定性分析。
根据标准原文，晶粒尺寸测定上限为 100 nm。超过该上限时，方法可能不适用。
根据标准原文，微观应变测定上限为 0.1%。
X 射线衍射仪综合稳定度应优于 1%，测角仪精度应优于 0.001°。待测样品所选衍射峰总计数不低于 1000。
标准样品晶粒尺寸要求大于 1000 nm。常数 K 取值为 1。
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更新时间：2026-10-13
